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Pépite | Imagerie à haute résolution des assemblages moléculaires par nc-AFM et KPFM à basse température

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Academic year: 2021

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Figure

Figure 1.1: Scheme of different feedback loops in nc-AFM measurement with frequency modulation mode.
Figure 1.3: Illustration of different interaction forces measured in AFM in function of tip-sample distance [32].
Figure 1.4: Experimental ∆f(z) curve on the silicon substrate with V bias =150 mV and A osc =50 pm (peak to peak amplitude A pp =100 pm)
Figure 1.5: Tip functionalization with xenon atoms adsorbed at the edge of NaCl island on Cu(111), a) before and b) after picking up Xe atom on Cu tip, scanning parameters I=2 pA, V=0.2 V
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