Contribution à l'amélioration de la résolution en microscopie optique : Profilométrie différentielle picométrique et imagerie en champ proche

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Submitted on 29 Dec 2010

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Contribution à l’amélioration de la résolution en

microscopie optique : Profilométrie différentielle

picométrique et imagerie en champ proche

Philippe Gleyzes

To cite this version:

Philippe Gleyzes. Contribution à l’amélioration de la résolution en microscopie optique : Profilométrie différentielle picométrique et imagerie en champ proche. Optique [physics.optics]. Université Paris Sud - Paris XI, 1993. Français. �pastel-00550696�

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